當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 德國布魯克 > 紅外光譜儀 > VERTEX 80/80v FT-IR光譜儀
簡要描述:采用布魯克的真正的動態(tài)準(zhǔn)直的UltraScan™干涉儀,結(jié)合高精確、真正無摩擦的空氣軸承和高精度的光學(xué)系統(tǒng),全新的VERTEX 80系列光譜儀具有Z高的精度、Z佳的穩(wěn)定性和Z高的靈敏度。VERTEX 80V采用真空光學(xué)平臺,*消除對空氣、水分的對于測試的影響,尤其適合高分辨、快速掃描、步進掃描、紫外波段高階應(yīng)用。
產(chǎn)品分類
詳細介紹
品牌 | Bruker/布魯克 |
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光譜儀VERTEX 80系列的光學(xué)設(shè)計使得系統(tǒng)既有*的靈活性又有的性能。布魯克公司的DigiTect™的數(shù)字技術(shù)能有效避免了外部的信號干擾,保證了儀器zui高信噪比。儀器可以配置多個檢測器,且用戶可自行更換。兩個外接檢測器接口可安裝大體積的檢測器如bolometer檢測器和熱電子檢測器( hot electron)。外接水冷Hg-arc光源,在遠紅外區(qū)域能量輸出高,即使用室溫DTGS檢測器,也能得到高質(zhì)量的譜圖結(jié)果。
*光譜范圍擴展能力
VERTEX 80系列光譜范圍可從 遠紅外(Terehertz)、中紅外、近紅外、可見光、一直擴展到紫外波段。預(yù)準(zhǔn)直光學(xué)組件、動態(tài)準(zhǔn)直UltraScan™干涉儀,使得光譜范圍擴展十分簡便,無需任何調(diào)整。
光譜儀高分辨率
VERTEX 80系列標(biāo)準(zhǔn)配置的切趾分辨率是優(yōu)于0.2cm-1。對于高分辨率的應(yīng)用實驗,如低溫測量、半導(dǎo)體材料結(jié)晶或低壓氣體測量,系統(tǒng)可選配優(yōu)于0.07 cm-1 的高分辨率,這也是臺式紅外可以達到的zui高分辨率。VERTEX 80系列可全波段實現(xiàn)高分辨率,如可見光范圍,系統(tǒng)的分辨能力優(yōu)于300,000:1.的(波數(shù)v/分辨率?ν)。
靈活擴展能力
VERTEX 80系列特別的光學(xué)設(shè)計使得系統(tǒng)功能擴展靈活。尤其是真空系統(tǒng), *消除了空氣中的水蒸氣和二氧化碳的影響,特別適合遠紅外、納米單層膜的測量。儀器有5個光路外接出口(分別在儀器的右、前、左側(cè))、兩個光路進口(在右側(cè)及儀器的后部)可供選擇,可以更具不同的應(yīng)用要求或發(fā)展需要,輕松擴展聯(lián)機。,如在后端的進口加同步加速器光源,在右側(cè)出口處加PMA50偏振調(diào)制附件,在右前方連接光纖部件,bolometer檢測器可安裝在左前方,HYPERION™系列紅外顯微鏡可安裝在左側(cè)光路出口。
BRAIN: 人工智能系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)BRAIN (Bruker Artificial Inligence Network)
人工智能網(wǎng)絡(luò)能自動識別光學(xué)元件、測試附件,并自動設(shè)置相關(guān)參數(shù)。 并能實時檢測儀器性能,保證儀器*狀態(tài)。
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